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EAN : 9782747590495
184 pages
Editions L'Harmattan (15/09/2005)

Note moyenne : /5 (sur 0 notes)
Résumé :
Commémorant le centenaire de l'échelle métrique de l'intelligence Binet-Simon, ce livre rassemble des contributions sur l'histoire du test et sur l'évolution des tests métriques de l'intelligence jusqu'à aujourd'hui. En 1904 se crée autour des questions de scolarisation des enfants arriérés une commission. Binet imposera l'idée d'un examen psychologique afin de déterminer l'admission des anormaux. C'est par le détour du diagnostic de débilité mentale que la mesure d... >Voir plus
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